GB/T 22586-2018 电子学特性测量超导体在微波频率下的表面电阻
简介
GB/T 22586-2018 代替GB/T22586—2008
电子学特性测量超导体在微波频率下的表面电阻
Electronic characteristic measurements—Surface resistance of superconductors at microwave frequencies (IEC 61788-7:2006, Superconductivity—Part 7:Electronic characteristic measurementsSurface resistance of superconductors at microwave frequencies, MOD)
2018-10-01实施
2018-03-15发布
前 言
本标准按照GB/T 1.1—2009 给出的规则起草。
本标准代替GB/T22586—2008《高温超导薄膜微波表面电阻测试》。与GB/T22586—2008相比，主要技术变化如下∶
——增加了附录B（规范性附录），给出了"改进型镜像介质谐振器法"应用"校准技术"测量单片高温超导薄膜微波表面电阻（Rs）的方案。本方案采用的是TEu。模式改进型镜像蓝宝石介质谐振器法，通过校准，单片超导薄膜的Rs值可以通过一次测量得到。本方案在满足测量变异系数低于20%的前提下，能大幅度提高测试效率，适合大批量工业化的测试;
——增加了附录C（资料性附录），给出了与附录B相关的一些附加资料，如"改进型镜像介质谐振器法"的理论推导等。
本标准使用重新起草法修改采用IEC61788-7∶2006《超导电性 第7部分∶电子学特性测量 超导
体在微波频率下的表面电阻》，与IEC61788-7∶2006 相比，主要技术性差异如下∶
——增加了规范性附录B及资料性附录C。附录B是另一种供选择的方案。
本标准还做了下列编辑性修改∶
——本标准的名称中去掉了"超导电性 第7部分∶"字样，以便与现有的标准系列一致。
本标准由中国科学院提出。
本标准由全国超导标准化技术委员会（SAC/TC265）归口。
GB/T 22586-2018 代替GB/T22586—2008
电子学特性测量超导体在微波频率下的表面电阻
Electronic characteristic measurements—Surface resistance of superconductors at microwave frequencies (IEC 61788-7:2006, Superconductivity—Part 7:Electronic characteristic measurementsSurface resistance of superconductors at microwave frequencies, MOD)
2018-10-01实施
2018-03-15发布
前 言
本标准按照GB/T 1.1—2009 给出的规则起草。
本标准代替GB/T22586—2008《高温超导薄膜微波表面电阻测试》。与GB/T22586—2008相比，主要技术变化如下∶
——增加了附录B（规范性附录），给出了"改进型镜像介质谐振器法"应用"校准技术"测量单片高温超导薄膜微波表面电阻（Rs）的方案。本方案采用的是TEu。模式改进型镜像蓝宝石介质谐振器法，通过校准，单片超导薄膜的Rs值可以通过一次测量得到。本方案在满足测量变异系数低于20%的前提下，能大幅度提高测试效率，适合大批量工业化的测试;
——增加了附录C（资料性附录），给出了与附录B相关的一些附加资料，如"改进型镜像介质谐振器法"的理论推导等。
本标准使用重新起草法修改采用IEC61788-7∶2006《超导电性 第7部分∶电子学特性测量 超导
体在微波频率下的表面电阻》，与IEC61788-7∶2006 相比，主要技术性差异如下∶
——增加了规范性附录B及资料性附录C。附录B是另一种供选择的方案。
本标准还做了下列编辑性修改∶
——本标准的名称中去掉了"超导电性 第7部分∶"字样，以便与现有的标准系列一致。
本标准由中国科学院提出。
本标准由全国超导标准化技术委员会（SAC/TC265）归口。
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