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GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

文档大小：762 KB 资料语言：中文版 文档格式：PDF电子文档 上传时间：2021-03-24 12:04:28 所属栏目：国家标准
立即下载 能级 硅片 晶体 密度 缺陷
简介
GB/T 37051-2018
太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer
2019-04-01实施
2018-12-28发布
本标准按照 GB/T 1.1—2009 给出的规则起草。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会（SAC/TC203）归口。
 

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