GB/T 5095.2506-2020 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-6部分∶试验25f∶眼图和抖动
简介
GB/T 5095.2506-2020/IEC 60512-25-6:2004
电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-6部分∶试验25f∶眼图和抖动
Electromechanical components for electronic equipment——Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-6:Test 25f:Eye pattern and jitter (IEC60512-25-6:2004,Connectors for electronic equipment—Tests and measurements—Part 25-6:Test 25f:Eye pattern and jitter,IDT)
2020-11-01 实施
2020-04-28发布 目 次 前言 …………………………………………………………………………………………………………1 1 总则 ……………………………………………………………………………………………………… 1 1.1 范围和目的 ………………………………………………………………………………………… 1 1.2 术语和定义 ………………………………………………………………………………………… 1 2 试验设施 ………………………………………………………………………………………………… 1 2.1 设备 ………………………………………………………………………………………………… 1
2.2 装置 ………………………………………………………………………………………………… 1 3 试验样品 ………………………………………………………………………………………………… 2 3.1 说明 ………………………………………………………………………………………………… 2 4 试验程序 ………………………………………………………………………………………………… 2 4.1 总则 ………………………………………………………………………………………………… 2 4.2 眼图 ………………………………………………………………………………………………… 2 4.3 抖动 ………………………………………………………………………………………………… 3 5 相关标准应规定的细则 ………………………………………………………………………………… 3 6 试验记录文件 …………………………………………………………………………………………… 4 附录 A (规范性附录) 样品终端示意图 ………………………………………………………………… 5 附录 B (资料性附录) 眼图诠释———实用指南 ………………………………………………………… 7 GB/T5095《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。 GB/T5095的第25部分为信号完整性试验,已经发布或计划发布的部分如下: ———第25-1部分:试验25a:串扰比; ———第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗); ———第25-3部分:试验25c:上升时间衰减; ———第25-4部分:试验25d:传输时延; ———第25-5部分:试验25e:回波损耗; ———第25-6部分:试验25f:眼图和抖动; ———第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR); ———第25-9部分:信号完整 性试验 试验25i:外来串扰。 本部分为 GB/T5095的第25-6部分。 本部分按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本部分使用翻译法等同采用IEC60512-25-6:2004《电子设备用连接器 试验和测量 第25-6部分:试验25f:眼图和抖动》。 本部分做了下列编辑性修改: ———标准名称由《电子设备用连接器 试验和测量 第25-6部分:试验25f:眼图和抖动》修改为《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分:试验25f:眼图和抖动》。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC166)归口。
GB/T 5095.2506-2020/IEC 60512-25-6:2004
电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-6部分∶试验25f∶眼图和抖动
Electromechanical components for electronic equipment——Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-6:Test 25f:Eye pattern and jitter (IEC60512-25-6:2004,Connectors for electronic equipment—Tests and measurements—Part 25-6:Test 25f:Eye pattern and jitter,IDT)
2020-11-01 实施
2020-04-28发布 目 次 前言 …………………………………………………………………………………………………………1 1 总则 ……………………………………………………………………………………………………… 1 1.1 范围和目的 ………………………………………………………………………………………… 1 1.2 术语和定义 ………………………………………………………………………………………… 1 2 试验设施 ………………………………………………………………………………………………… 1 2.1 设备 ………………………………………………………………………………………………… 1
2.2 装置 ………………………………………………………………………………………………… 1 3 试验样品 ………………………………………………………………………………………………… 2 3.1 说明 ………………………………………………………………………………………………… 2 4 试验程序 ………………………………………………………………………………………………… 2 4.1 总则 ………………………………………………………………………………………………… 2 4.2 眼图 ………………………………………………………………………………………………… 2 4.3 抖动 ………………………………………………………………………………………………… 3 5 相关标准应规定的细则 ………………………………………………………………………………… 3 6 试验记录文件 …………………………………………………………………………………………… 4 附录 A (规范性附录) 样品终端示意图 ………………………………………………………………… 5 附录 B (资料性附录) 眼图诠释———实用指南 ………………………………………………………… 7 GB/T5095《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。 GB/T5095的第25部分为信号完整性试验,已经发布或计划发布的部分如下: ———第25-1部分:试验25a:串扰比; ———第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗); ———第25-3部分:试验25c:上升时间衰减; ———第25-4部分:试验25d:传输时延; ———第25-5部分:试验25e:回波损耗; ———第25-6部分:试验25f:眼图和抖动; ———第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR); ———第25-9部分:信号完整 性试验 试验25i:外来串扰。 本部分为 GB/T5095的第25-6部分。 本部分按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本部分使用翻译法等同采用IEC60512-25-6:2004《电子设备用连接器 试验和测量 第25-6部分:试验25f:眼图和抖动》。 本部分做了下列编辑性修改: ———标准名称由《电子设备用连接器 试验和测量 第25-6部分:试验25f:眼图和抖动》修改为《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分:试验25f:眼图和抖动》。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC166)归口。
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