GB/T 36477-2018 半导体集成电路快闪存储器测试方法
简介
GB/T 36477-2018
半导体集成电路快闪存储器测试方法
Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory
2019-01-01实施
2018-06-07发布
本标准按照GB/T 1.1—2009 给出的规则起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由全国半导体器件标准化技术委员会（SAC/TC78）归口。
GB/T 36477-2018
半导体集成电路快闪存储器测试方法
Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory
2019-01-01实施
2018-06-07发布
本标准按照GB/T 1.1—2009 给出的规则起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由全国半导体器件标准化技术委员会（SAC/TC78）归口。
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