GB/T 39560.1-2020 电子电气产品中某些物质的测定第1部分∶介绍和概述
简介
GB/T 39560.1-2020/IEC 62321-1;2013
电子电气产品中某些物质的测定第1部分∶介绍和概述
Determination of certain substances in electrical and electronic products—Part 1:Introduction and overview(IEC 62321-1:2013,Determination of certain substances in electrotechnical products—Part 1:Introduction and overview,IDT)
2021-07-01实施
2020-12-14发布
目 次
前言 ………………………………………………………………………………………………………… 1
1 范围……………………………………………………………………………………………………1
2 规范性引用文件 …………………………………………………………………………………………1
1 3 术语和定义、缩略语……………………………………………………………………………………… 1
3.1 术语和定义 …………………………………………………………………………………………1
3.2 缩略语……………………………………………………………………………………………… 2
4 检测方法—概述………………………………………………………………………………………3
4.1 应用领域 …………………………………………………………………………………………… 3
4.2 样品………………………………………………………………………………………………… 4
4.3 检测方法——流程图 ……………………………………………………………………………… 4
4.4 质量保证与控制 ……………………………………………………………………………………6
4.5 空白溶液 ……………………………………………………………………………………………6
4.6 基体匹配 ……………………………………………………………………………………………6
4.7 检出限（LOD）和定量限（LOQ）……………………………………………………………………6
4.8 检测报告 ..………….……………….…..……..……….………………………………………7
4.9 替代的检测方法 …………………………………………………………………………………… 7
附录A （资料性附录） 检出限（LOD）或方法检出限（MDL）——计算实例 ………… 8
参考文献…………………………………………………………………………………………………… 10
图1 检测方祛流程图……………………………………………………………………………………… 4
表1 典型的元素筛选和确证检测程序概要——制样方法………………………………………………5
表2 典型的元素筛选和确证检测程序概要——基于不同待测物质的分析方法 ……………………… 6
表A.1 检测结果…………………………………………………………………………………………… 8
表A.2 t分布值……………………………………………………………………………………………8
表A.3 计算结果…………………………………………………………………………………………… 9
GB/T 39560《电子电气产品中某些物质的测定》目前分为以下几个部分∶
——第1部分∶介绍和概述;
——第2部分∶拆解、拆分和机械制样;
——第 3-1部分∶X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴;
——第4部分∶CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS 测定聚合物、金属和电子件中的汞;
——第5部分∶AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS 测定聚合物和电子件中的镉、铅和铬与金属中的镉和铅;
——第6部分∶气相色谱-质谱仪（GC-MS）测定聚合物中的多溴联苯和多溴二苯醚;
——第7-1部分∶六价铬 比色法测定金属上无色和有色防腐镀层中的六价铬【Cr（VI）】;
——第 7-2部分;六价铬 比色法测定聚合物和电子件中的中六价铬【Cr（VI】;
——第8部分;气相色谱-质谱仪（GC-MS）与配有热裂解/热脱附的气相色谱-质谱仪（Py/TD-GC-MS）测定聚合物中的邻苯二甲酸酯。本部分为GB/T39560 的第1部分。
本部分按照GB/T1.1-2009 给出的规则起草。
本部分使用翻译法等同采用IEC 62321-1;2013《电工产品中某些物质的测定 第1部分∶介绍和概述》。
GB/T 39560.1-2020/IEC 62321-1;2013
电子电气产品中某些物质的测定第1部分∶介绍和概述
Determination of certain substances in electrical and electronic products—Part 1:Introduction and overview(IEC 62321-1:2013,Determination of certain substances in electrotechnical products—Part 1:Introduction and overview,IDT)
2021-07-01实施
2020-12-14发布
目 次
前言 ………………………………………………………………………………………………………… 1
1 范围……………………………………………………………………………………………………1
2 规范性引用文件 …………………………………………………………………………………………1
1 3 术语和定义、缩略语……………………………………………………………………………………… 1
3.1 术语和定义 …………………………………………………………………………………………1
3.2 缩略语……………………………………………………………………………………………… 2
4 检测方法—概述………………………………………………………………………………………3
4.1 应用领域 …………………………………………………………………………………………… 3
4.2 样品………………………………………………………………………………………………… 4
4.3 检测方法——流程图 ……………………………………………………………………………… 4
4.4 质量保证与控制 ……………………………………………………………………………………6
4.5 空白溶液 ……………………………………………………………………………………………6
4.6 基体匹配 ……………………………………………………………………………………………6
4.7 检出限（LOD）和定量限（LOQ）……………………………………………………………………6
4.8 检测报告 ..………….……………….…..……..……….………………………………………7
4.9 替代的检测方法 …………………………………………………………………………………… 7
附录A （资料性附录） 检出限（LOD）或方法检出限（MDL）——计算实例 ………… 8
参考文献…………………………………………………………………………………………………… 10
图1 检测方祛流程图……………………………………………………………………………………… 4
表1 典型的元素筛选和确证检测程序概要——制样方法………………………………………………5
表2 典型的元素筛选和确证检测程序概要——基于不同待测物质的分析方法 ……………………… 6
表A.1 检测结果…………………………………………………………………………………………… 8
表A.2 t分布值……………………………………………………………………………………………8
表A.3 计算结果…………………………………………………………………………………………… 9
GB/T 39560《电子电气产品中某些物质的测定》目前分为以下几个部分∶
——第1部分∶介绍和概述;
——第2部分∶拆解、拆分和机械制样;
——第 3-1部分∶X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴;
——第4部分∶CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS 测定聚合物、金属和电子件中的汞;
——第5部分∶AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS 测定聚合物和电子件中的镉、铅和铬与金属中的镉和铅;
——第6部分∶气相色谱-质谱仪（GC-MS）测定聚合物中的多溴联苯和多溴二苯醚;
——第7-1部分∶六价铬 比色法测定金属上无色和有色防腐镀层中的六价铬【Cr（VI）】;
——第 7-2部分;六价铬 比色法测定聚合物和电子件中的中六价铬【Cr（VI】;
——第8部分;气相色谱-质谱仪（GC-MS）与配有热裂解/热脱附的气相色谱-质谱仪（Py/TD-GC-MS）测定聚合物中的邻苯二甲酸酯。本部分为GB/T39560 的第1部分。
本部分按照GB/T1.1-2009 给出的规则起草。
本部分使用翻译法等同采用IEC 62321-1;2013《电工产品中某些物质的测定 第1部分∶介绍和概述》。
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