JB/T 10033-2018 测微头

简介
JB/T 10033-2018 代替 JB/T 10033-1999
测微头
Micrometer head
2018-12-01实施
2018-04-30发布
前 言
本标准按照GB/T 1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替JB/T10033-1999《测微头》，与JBT1003-1999相比主要技术变化如下∶
——修改了标准的适用范围，将测量范围改为量程，并增加了档次规格品种（见第1章，1999年版的第1章）;
——修改了测微头的型式定义（见4.1，1999年版的3.1）;
——增加了测微头的基本参数（见4.2.1、4.2.2）;
——增加了对测微头安装部分的要求（见42.6）∶
——增加了对材料的要求（见 5.3）
——修改了对测微头测量面硬度、表面粗糙度的技术要求（见5.8.4，1999年版的4.9、4.10）;
——修改了测微头的示值最大允许误差的内容和检定要求（见5.9、7.8，1999年版的4.13）;
——修改了对测微头回程误差的要求和检查方法（见5.10、7.9，1999年版的A3）;
——修改了测微头平测量面对测微螺杆轴线垂直度的要求，改正了1999年版中不尽合理的检查方法（见7.7.2，1999年版的附录 A9）;
——增加了检查条件的要求（见第6章）;
——增加了检查方法章节，将附录里的检查方法放在标准正文中并进行了补充（见第7章，1999
年版的附录 A）。
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC132）归口。

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