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SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法

文档大小：6.52 MB 资料语言：中文版 文档格式：PDF电子文档 上传时间：2021-05-20 10:13:06 所属栏目：行业标准
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简介
SJ/T 11703-2018
数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
Crosstalk test method for digital microelectronic device packages
2018-02-09发布
2018-04-01实施
前 言
本标准按照GB/T1.1-—2009给出的规则起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由全国集成屯路标准化分技术委员会（SAC/TC78/SC2）归口。
 

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