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SJ/T 11699-2018 IP核可测试性设计指南

简介
SJ/T 11699-2018
IP核可测试性设计指南
Guidelines for design for testability of IP cores
2018-02-09发布
2018-04-01实施
前 言
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会(SAC/TC78/SC2)归口。