SY/T 7410.2-2020 岩石三维孔隙结构测定方法第2部分∶聚焦离子束切片法
简介
SY/T 7410.2-2020
岩石三维孔隙结构测定方法第2部分∶聚焦离子束切片法
3D pore structure characterization of rocks— Part 2: FIB-SEM method
2021-02-01实施
2020一10一23发布
前 言
SY/T 7410《岩石三维孔隙结构测定方法》分为两个部分∶
——第1部分∶ CT扫描法;
——第 2 部分;聚焦离子束切片法。
本部分为 SY/T 7410 的第2 部分。
本部分按照GB/T 1.1—2009《标准化工作导则 第1部分 标准的结构和编写》给出的规则起草。
本部分由石油地质勘探专业标准化委员会提出并归口。
SY/T 7410.2-2020
岩石三维孔隙结构测定方法第2部分∶聚焦离子束切片法
3D pore structure characterization of rocks— Part 2: FIB-SEM method
2021-02-01实施
2020一10一23发布
前 言
SY/T 7410《岩石三维孔隙结构测定方法》分为两个部分∶
——第1部分∶ CT扫描法;
——第 2 部分;聚焦离子束切片法。
本部分为 SY/T 7410 的第2 部分。
本部分按照GB/T 1.1—2009《标准化工作导则 第1部分 标准的结构和编写》给出的规则起草。
本部分由石油地质勘探专业标准化委员会提出并归口。
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