T/CSTM 00162-2020 透射电子显微镜校准方法
简介
T/CSTM 00162-2020
透射电子显微镜校准方法
Calibration methods for transmission electron microscope
2020-06-23 实施
2020-O3-23 发布
前言
本标准参照 GB/T 1. 1一2009给出的规则起草，
请注意本文件的某些内容有可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由中国材料与试验团体标准委员会基础与共性技术领域委员会（CSTM/FC00）提出。
本标准由中国材料与试验团体标准委员会基础与共性技术领域委员会（cSTM/FCo0）扫口。
引 言
透射电子显微镜（简称"透射电镜"）是研究固态物质显微形貌、品体结构和测量纳米尺寸的仪器，在材料科学和生命科学等领域被广泛应用。本标准规定了透射电镜图像放大倍率（标尺），样品污染率和样品漂移率的校准方法;制定本标准的目的主要是解决透射电镜在测量应用中的校准问题。
T/CSTM 00162-2020
透射电子显微镜校准方法
Calibration methods for transmission electron microscope
2020-06-23 实施
2020-O3-23 发布
前言
本标准参照 GB/T 1. 1一2009给出的规则起草，
请注意本文件的某些内容有可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由中国材料与试验团体标准委员会基础与共性技术领域委员会（CSTM/FC00）提出。
本标准由中国材料与试验团体标准委员会基础与共性技术领域委员会（cSTM/FCo0）扫口。
引 言
透射电子显微镜（简称"透射电镜"）是研究固态物质显微形貌、品体结构和测量纳米尺寸的仪器，在材料科学和生命科学等领域被广泛应用。本标准规定了透射电镜图像放大倍率（标尺），样品污染率和样品漂移率的校准方法;制定本标准的目的主要是解决透射电镜在测量应用中的校准问题。
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