JB/T 13466-2018 无损检测接头熔深相控阵超声测定方法
简介
JB/T 13466-2018
无损检测接头熔深相控阵超声测定方法
Non-destructive testing—Test method for determining joint pentration by ultrasonic phased array
2018-12-01实施
2018-04-30 发布
目 次
前言………………………………………………………………………………………………………………………………………1
1 范围……………………………………………………………………………………………………………………………….1
2规范性引用文件……………………………………………………………………………………………1
3 术语和定义……………………………………………………………………………………………………………….1
4 检测人员……………………………………………………………………………………………………………………1
5 检测设备………………………………………………………………………………………………………………………………2
6 检测时机…………………………………………………………………………………………………………………2
7 检测工艺及工艺验证………………………………………………………………………………………………………………2
8 检测准备………………………………………………………………………………………………………………………………3
9 检测系统的设置和校准…………………………………………………………………………………………………4
10 检测…………………………………………………………………………………………………………………………5
11 检测数据的分析和解释………………………………………………………………………………………………………5
12 验收准则.……………………………………………………………………………………………………………………………………9
13 记录与报告…………………………………………………………………………………………………9
附录 A(资料性附录)灵敏度校正参考试块……………………………………………………………………………………………… 11
附录 B(规范性附录) 接头熔深参考试块……………………………………………………………………………………………………........12
附录 C(资料性附录) 接头部分熔透焊缝推荐的扫查位置……………………………………………………………………………………14
参考文献…………………………………………………………………………………………………………………………………………15
JB/T 13466-2018
无损检测接头熔深相控阵超声测定方法
Non-destructive testing—Test method for determining joint pentration by ultrasonic phased array
2018-12-01实施
2018-04-30 发布
目 次
前言………………………………………………………………………………………………………………………………………1
1 范围……………………………………………………………………………………………………………………………….1
2规范性引用文件……………………………………………………………………………………………1
3 术语和定义……………………………………………………………………………………………………………….1
4 检测人员……………………………………………………………………………………………………………………1
5 检测设备………………………………………………………………………………………………………………………………2
6 检测时机…………………………………………………………………………………………………………………2
7 检测工艺及工艺验证………………………………………………………………………………………………………………2
8 检测准备………………………………………………………………………………………………………………………………3
9 检测系统的设置和校准…………………………………………………………………………………………………4
10 检测…………………………………………………………………………………………………………………………5
11 检测数据的分析和解释………………………………………………………………………………………………………5
12 验收准则.……………………………………………………………………………………………………………………………………9
13 记录与报告…………………………………………………………………………………………………9
附录 A(资料性附录)灵敏度校正参考试块……………………………………………………………………………………………… 11
附录 B(规范性附录) 接头熔深参考试块……………………………………………………………………………………………………........12
附录 C(资料性附录) 接头部分熔透焊缝推荐的扫查位置……………………………………………………………………………………14
参考文献…………………………………………………………………………………………………………………………………………15
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