YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析二氧化硅含量的测定X射线衍射K值法
简介
YS/T 1160-2016
工业硅粉定量相分析二氧化硅含量的测定X射线衍射K值法
Silicon powder-quantitative phase analysis— Determination of silicon dioxide content— Value K method of X-ray diffraction
2017-01-01实施
2016-07-11 发布
本标准按照 GB/T 1.1—2009 给出的规则起草。
本标准由全国有色金属标准化技术委员会（SAC/TC 243）提出并归口。
1 范围
本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。
本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围为≥1%。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T 8170 数值修约规则与极限数值的表示和判定
3 方法原理
YS/T 1160-2016
工业硅粉定量相分析二氧化硅含量的测定X射线衍射K值法
Silicon powder-quantitative phase analysis— Determination of silicon dioxide content— Value K method of X-ray diffraction
2017-01-01实施
2016-07-11 发布
本标准按照 GB/T 1.1—2009 给出的规则起草。
本标准由全国有色金属标准化技术委员会（SAC/TC 243）提出并归口。
1 范围
本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。
本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围为≥1%。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T 8170 数值修约规则与极限数值的表示和判定
3 方法原理
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