您现在的位置是:网站首页>地方标准DB32/T 3459-2018 石墨烯薄膜微区覆盖度测试扫描电子显微镜法

DB32/T 3459-2018 石墨烯薄膜微区覆盖度测试扫描电子显微镜法

简介
DB32/T 3459-2018
石墨烯薄膜微区覆盖度测试扫描电子显微镜法
Measurement of micro-scale coverage of graphene film by scanning electron microscopy
2018-11-30实施
2018-11-09发布 目 次 前言 ................................................................................1 1 范围 .............................................................................. 1 2 规范性引用文件 .................................................................... 1 3 术语和定义 ........................................................................ 1 4 测试准备 .......................................................................... 2 5 SEM 测试........................................................................... 3 6 图像处理 .......................................................................... 4 7 微区覆盖度计算 .................................................................... 4 8 不确定度评定 ...................................................................... 4 9 测试报告 .......................................................................... 4 附录 A(资料性附录) 实例............................................................ 5 附录 B(资料性附录) 测试报告式样.................................................... 7 本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本标准由常州市质量技术监督局提出。 本标准由江苏省石墨烯标准化技术委员会归口。