基于March＋C-算法的单片机存储器测试

文档大小：304 KB 资料语言：中文版文档格式：PDF电子文档上传时间：2021-05-17 10:24:08 所属栏目：电子信息

简介
摘要：为了保证单片机系统的可靠性，对单片机内嵌存储畧的测试显得尤为重要，根据MCS- 51系列单片机系统内嵌存储器的結构特点和故障模型，研究了测试算法的选择、数据背景的产生等问题，首次提出将March C一算法用于单片机内嵌存储器的用户级测试程序编写。该测试程序对SAF,TF,AF,CF的故障覆盖率可达到100%,并且能够检测部分NPSF 故障，具有较高的故障覆盖率，适合于对用户级MCS-51系列单•片机存储器的测试。