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半导体器件与电路的可靠性及退化

文档大小：17613 KB 资料语言：中文版 文档格式：PDF电子文档 上传时间：2021-04-16 18:53:17 所属栏目：电子信息
立即下载 性及 电路 可靠 半导体器件
简介
半导体器件及电路的可靠性与退化
作者：（英）M.J.豪斯（M.J.Howes），（英）D.V.摩根（D.V.Morgan）主编；李锦林等译

ISBN：7030011643/9787030011640
出版时间：1989

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